臺(tái)式電鏡粒度分析 電子顯微鏡

結(jié)合飛納臺(tái)式電鏡粒度分析測(cè)量系統(tǒng)，以快速、簡(jiǎn)便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，代表著微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰成像質(zhì)量的飛納臺(tái)式掃描電鏡，加上顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶檢驗(yàn)、分析各種各樣的顆粒、粉末樣品創(chuàng)造了一個(gè)強(qiáng)大工具。

超越光學(xué)顯微鏡分析，*自動(dòng)化的顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)把可視化分析提高到了一個(gè)新臺(tái)階，這將在粉末設(shè)計(jì)、開(kāi)發(fā)和質(zhì)量控制中產(chǎn)生進(jìn)一步的探索和創(chuàng)新。

柱狀圖、散點(diǎn)圖和生成的圖像可以選定格式導(dǎo)出，并生成報(bào)告。所有被測(cè)顆粒的柱狀圖都可以顯示為數(shù)量分布或體積分布。

散點(diǎn)圖可以從顆粒屬性的任意組合中繪制出來(lái)，以揭示相關(guān)性和趨勢(shì)。飛納臺(tái)式電鏡粒度分析測(cè)量系統(tǒng)支持用戶獲得他們需要的數(shù)據(jù)。因此，顆粒系統(tǒng)加快了顆粒分析速度，提高了產(chǎn)品質(zhì)量。

顆粒分析

• 顆粒尺寸范圍：100 nm – 0.1 mm

• 顆粒探測(cè)速度：高達(dá) 1000 個(gè)/分鐘

• 測(cè)量屬性：大小、形狀、數(shù)量

復(fù)納科學(xué)儀器 (上海) 有限公司 (Phenom Scientific)，負(fù)責(zé)荷蘭飛納臺(tái)式掃描電鏡在中國(guó)市場(chǎng)的推廣和銷(xiāo)售，提供專業(yè)的和測(cè)試服務(wù)，飛納電鏡擁有專業(yè)的服務(wù)團(tuán)隊(duì)，提供優(yōu)化的解決方案；飛納電鏡在上海、北京、廣州設(shè)立了測(cè)試中心和售后服務(wù)中心，目前飛納在中國(guó)已經(jīng)擁有超過(guò) 1000 名用戶。