不同視角 SEM 表征與數據分析—飛納電鏡 MAPS 開啟科學新視界

飛納電鏡持續創新  系列一

01

“你這個位置是哪里拍的？其他位置什么情況？整個樣品上裂紋的走勢是什么樣的？”

作為失效工程師，收到老板或同事的靈魂拷問，是不是常常讓你頭疼？

02

“你這個太局部了，不具有代表性，其他位置什么情況？”

明明是供應商產品的問題，但強勢的甲方的詭辯總讓你無奈不已？

03

“小張，我要整個組織切片的全貌，請確保拍下來。”

導師的要求太天真，臣妾做不到？

別擔心，飛納電鏡 MAPS 系統幫你解決這些問題！

2024 年，飛納發布數據采集及閱讀系統 Phenom MAPS。該系統不僅改變了數據存儲的方式，還為 SEM 表征與數據分析開啟了“上帝視角”，幫您輕松掌握每一個細節，不再需要費力解釋。

今天，我們來詳細了解一下這款為科學家們提供“上帝視角”的飛納電鏡 MAPS 系統。

No。1 ：多圖層數據采集及閱讀系統

“人如其名”，MAPS 是地圖的意思，該系統會像地圖一樣，通過層級的方式，實現對樣品的拍攝與數據回看。Phenom MAPS 提供的是一個涵蓋所有樣品信息的數碼存檔，從全面（宏觀）到具體（微觀）無所不包，改變了傳統掃描電鏡的分析與數據存儲模式。并且，多圖層數據可以包含能譜。

No.2 ：大面積成像拼接，wan全無痕！

大面積成像拼接，萬全無痕

No.3：大面積能譜分析，地質行業zui愛！

這里是一個地質樣品的能譜拼圖結果，Phenom MAPS 可以實現對整個樣品的能譜采集，導出任意拼接的原始能譜數據，以方便進行離線分析。

No.4 ：CISA，關聯一切可視化圖片

光鏡、拉曼、紅外、XPS，甚至 CAD 或手繪草圖，通通可以關聯。下圖案例：通過 MAPS CISA，將 SEM 和 XPS 面分布以及全譜分析的功能相結合，分析多孔砂粒子的表面組成和形貌。

通過結合 XPS 和 SEM 的分析，可以精確地將化學信息與顯微鏡提供的高分辨率結構信息融合。CISA 關聯工作流程尤其適用于研究電池、高分子材料、催化劑和金屬等樣品的材料研究。

總結

飛納電鏡 MAPS 系統不僅是一個自動化的圖像、能譜采集工具，更是一個數碼存檔和關聯數據分析平臺。通過地圖化的多層級掃描電鏡和能譜數據采集及關聯系統，為您提供多模態的“上帝視角”，全面掌握顯微鏡數據，不再錯過任何細節。

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下期預告

新品發布會直播預告

飛納電鏡將在第十屆電子顯微學網絡會議，重磅發布新產品以及應用案例！

iCEM 2024

“第十屆電子顯微學網絡會議（iCEM 2024）”結合目前電子顯微學主要儀器技術及應用熱點，邀請業界電子顯微學專家、電子顯微學儀器技術專家、電子顯微學應用專家等，重點邀請近來有重要工作成果進展的優秀青年學者代表線上分享精彩報告。

復納科學儀器（上海）有限公司應用專家張傳杰將帶來主題【新品發布：飛納臺式掃描電鏡的技術突破及全新智能型離子研磨制樣平臺介紹】報告時間：6 月 26 日 10:30-11:00，歡迎大家報名預約觀看。