飛納電鏡彩色成像，給你的掃描電鏡來(lái)點(diǎn)“顏色”看看

隨著工業(yè)生產(chǎn)日益復(fù)雜和產(chǎn)品標(biāo)準(zhǔn)不斷提高，部件的質(zhì)量控制和生產(chǎn)速度變得越來(lái)越重要。對(duì)于實(shí)驗(yàn)室和質(zhì)量管理負(fù)責(zé)人而言，往往需要在技術(shù)人員較少、時(shí)間有限的情況下提供分析結(jié)果。目前，標(biāo)準(zhǔn)的行業(yè)解決方案是將用于獲取結(jié)構(gòu)信息的掃描電子顯微鏡（SEM）與能量色散 X 射線光譜（EDS）探測(cè)器相結(jié)合，進(jìn)行樣品的化學(xué)元素分析表征。

EDS 提供的元素信息可以給質(zhì)量分析提供指導(dǎo)方向，然而將掃描電鏡（SEM）與 EDS 割裂為兩個(gè)獨(dú)立的設(shè)備會(huì)導(dǎo)致用戶體驗(yàn)不夠友好。比如：需要不斷地在高低倍數(shù)間切換來(lái)完成樣品尋找和成像；需要在兩個(gè)系統(tǒng)間不斷進(jìn)行數(shù)據(jù)同步和關(guān)聯(lián)；獨(dú)立的硬件和軟件需求會(huì)導(dǎo)致兼容性問(wèn)題和維護(hù)困難；數(shù)據(jù)分析可能會(huì)很麻煩并且需要很長(zhǎng)時(shí)間；操作人員需要更長(zhǎng)時(shí)間的專門培訓(xùn)。

飛納電鏡推出的 ChemiSEM 技術(shù)，將掃描電鏡（SEM）形貌觀察與 EDS 成分分析相結(jié)合，讓工作流程更加流暢，簡(jiǎn)化了許多材料（包括金屬、陶瓷、電池、涂層、水泥和軟物質(zhì)材料等）的分析流程：通過(guò)彩色元素分布圖與掃描電鏡（SEM）圖像的實(shí)時(shí)疊加，在成像同時(shí)提供高質(zhì)量的成分定性定量信息。

ChemiSEM 分析技術(shù)在易用性、便利性和速度上的提升，可以更快、更輕松地提供元素信息，降低每個(gè)樣品分析測(cè)試的成本，更好地服務(wù)于質(zhì)量分析過(guò)程。

對(duì)于您的實(shí)驗(yàn)室

ChemiSEM 提供了一個(gè)簡(jiǎn)單易行的解決方案，易于安裝和使用，始終處于開啟狀態(tài)，并且能夠在最少的訓(xùn)練和培訓(xùn)下提供可靠的結(jié)果。

對(duì)于您的團(tuán)隊(duì)

ChemiSEM 延長(zhǎng)了設(shè)備有效機(jī)時(shí)，增加了樣品吞吐量，從而提高了材料分析的質(zhì)量和數(shù)量。

PART.01 實(shí)時(shí)分析獲取更深層的信息

所有的 SEM-EDS 分析本質(zhì)上都是復(fù)雜的，對(duì)于產(chǎn)品故障分析和污染物識(shí)別等應(yīng)用，研發(fā)需要不斷改進(jìn)質(zhì)量控制（QC）和故障分析（FA）流程，以更好地解決出現(xiàn)的問(wèn)題。

ChemiSEM 技術(shù)的實(shí)時(shí)分析在質(zhì)量控制和生產(chǎn)效率提升方面提供了優(yōu)勢(shì)。它的 EDS 集成在儀器中，并在電鏡工作時(shí)始終在后臺(tái)收集成分?jǐn)?shù)據(jù)，逐步建立樣品更全面和詳細(xì)的信息，幫助您更快地定位到關(guān)鍵質(zhì)量問(wèn)題

PART.02 實(shí)時(shí)定量面掃：不再有分析干擾

傳統(tǒng)的元素分析中，復(fù)雜樣品元素分布和相分布面掃并不能及時(shí)得到精確的結(jié)果。例如，一個(gè)峰的信號(hào)有時(shí)會(huì)被識(shí)別為兩個(gè)元素，產(chǎn)生錯(cuò)誤，干擾樣品QC 問(wèn)題的判斷。

憑借創(chuàng)新的算法和智能光譜擬合，ChemiSEM 技術(shù)可以幫助您的實(shí)驗(yàn)室團(tuán)隊(duì)實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的元素識(shí)別和量化——即使在處理多個(gè)重疊元素時(shí)也是如此。

ChemiSEM 定量面掃

ChemiSEM 技術(shù)自動(dòng)處理原始信號(hào)，生成定量面掃結(jié)果。數(shù)據(jù)被很好地解析，能夠有效避免和峰和重疊峰的影響。并且同時(shí)處理 BSE（背散射電子）和 EDS 信號(hào)，從而可以實(shí)時(shí)顯示樣品的形態(tài)和元素定量結(jié)果。

PART.03 無(wú)偏差相分析

傳統(tǒng)的相分析高度依賴于對(duì)樣品的假設(shè)，當(dāng)存在譜峰重疊或強(qiáng)度不足而遺漏了元素時(shí)，這可能會(huì)是一個(gè)問(wèn)題。

有了 ChemiPhase（ChemiSEM 技術(shù)中的一項(xiàng)新功能）后，可以避免這種情況。復(fù)雜樣品的分析能夠做到無(wú)偏差，可以基于數(shù)據(jù)單元中所有光譜結(jié)果，系統(tǒng)地識(shí)別每個(gè)獨(dú)立的相。隨后，數(shù)據(jù)分析可以在沒(méi)有任何元素預(yù)定義的情況下自動(dòng)運(yùn)行，無(wú)需豐富經(jīng)驗(yàn)即可定位次要/微量元素，明確識(shí)別主要和次要成分，完成更深入、更全面的分析。

地質(zhì)切片分析

使用 ChemiPhase 對(duì)地質(zhì)切片的分析，每個(gè)相的能譜成分被自動(dòng)提取和計(jì)算，可以將不同礦物相有效區(qū)分。

PART.04 自動(dòng)樣品漂移校正

成分分析過(guò)程中，準(zhǔn)確和有效的定量結(jié)果需要一個(gè)正確且穩(wěn)定的樣品位置信息。

通常在圖像漂移的情況下，研究人員需要多次重新獲取分析數(shù)據(jù)，或者等待樣品停止漂移后再獲取數(shù)據(jù)，這兩種方式都會(huì)降低測(cè)試效率。

通過(guò)不斷監(jiān)控樣品位置，ChemiSEM 軟件提供自動(dòng)樣品漂移校正，使高倍率操作和較長(zhǎng)時(shí)間的能譜采集成為可能。幫助大家節(jié)省寶貴的時(shí)間和精力，專注于更重要的事情：盡快獲取最高質(zhì)量的數(shù)據(jù)。

簡(jiǎn)而言之，ChemiSEM 技術(shù)提供高質(zhì)量的分析結(jié)果。它在大量的操作參數(shù)范圍內(nèi)進(jìn)行了優(yōu)化，即使在存在多個(gè)重疊峰的情況下也能提供可靠的數(shù)據(jù)結(jié)果。智能光譜擬合根據(jù)精確的參數(shù)設(shè)置自動(dòng)驗(yàn)證元素，為獲得的結(jié)果提供保證。